
ZX2
Stabil, egyszerű és megfizethető lézeres mérőérzékelő
Nagy pontosság és mérési stabilitás megfizethető áron. Az új ZX2 lézeres érzékelő kategóriájában a legpontosabb, legstabilabb és leggyorsabb teljesítményt biztosítja minden lineáris elmozdulásmérés esetén. Speciális HSDR-CMOS érzékelőfeje segítségével még a legproblémásabb felületek esetén is nagy mérési stabilitást képes biztosítani.
- Beállítás egyetlen gombnyomással
- Nagy pontosság: 1,5–5 µm
- Tetszőleges felület
- Nagy sebesség: 30 µs
Specifikáció és rendelési információ
Termékek | Reference distance | Relative linearity deflection | Measuring range length | Geometrical resolution | Output type | Sensing method | Spot size | Height of sensor | Width of sensor | Overall length of sensor | Leírás | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
100 mm | 0.1 % | 65-135 mm | 0.005 mm | Diffuse reflective | 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
100 mm | 0.05 % | 65-135 mm | 0.005 mm | Diffuse reflective | 2.7 mm x 0.1 mm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 100mm +/-35mm, 5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
50 mm | 0.1 % | 40-60 mm | 0.0015 mm | Diffuse reflective | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, spot beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
50 mm | 0.05 % | 40-60 mm | 0.0015 mm | Diffuse reflective | 2.6 mm x 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor, CMOS type, sensor head, line beam type, 50mm +/-10mm, 1.5µm resolution, 0.5m cable |
|
|
|
48 mm | 0.3 % | 43-53 mm | 0.0015 mm | Background suppression | 60 µm | 47.5 mm | 22.6 mm | 35.5 mm | Laser displacement sensor head, 48 +/- 5mm, spot focus (requires amplifier), glass-mirror-wafer applications |
|
|
|
NPN | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, NPN output, 2 m cable |
|
||||||||
|
PNP | Amplifier | Laser displacement sensor, CMOS type, amplifier unit, PNP output |
|
Miben segíthetünk?
Ha kérdése van, vagy árajánlatot szeretne kérni, vegye fel velünk a kapcsolatot, vagy küldjön kérelmet.
Vegyék fel velem a kapcsolatot ZX2

Köszönjük megkeresését. Hamarosan kapcsolatba lépünk Önnel.
Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]
DownloadIdézet a következőre: ZX2
Az alábbi űrlap kitöltésével kérhet ajánlatot kiválasztott termékeinkről. A *-gal jelölt mezőket kérjük kitölteni. Adatait bizalmasan kezeljük.

Köszönjük érdeklődését. Hamarosan továbbítjuk Önnek a kért információt.
Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]
DownloadKépességek
HSDR-CMOS Image sensor

High Speed & Dynamic Range (HSDR) CMOS érzékelőfejet használja, mely stabil vizsgálatot biztosít fényelnyelő és erősen tükröződő felületeken is, anélkül, hogy a pontosság mértéke csökkenne. A ZX2 folyamatosan ellenőrzi a beérkező fény erősségét, és a kimenő lézerfény intenzitását ehhez igazítja, mintegy 60 μs alatt.
Egyszerű beállítás

A ZX2 beüzemeléséhez nincs szükség hosszadalmas paraméterezére. Egy könnyen használható, intelligens gomb segítségével beállíthatjuk az érzékelőt a vizsgálandó felület típusának megadásával:
- egyféle felület,
- többféle felület,
- erősen fényvisszaverő felület.
Alkalmazások

Dupla réteg érzékelése
A ZX2 nagy pontosságú mérésre és az eltérő felületek kezelésére egyaránt képes, ezért kettős síkú vizsgálatokra is alkalmas.

Pozícióreferencia mérés
A ZX2 a pontos lineáris méréseket igen gyorsan végzi, ezért alkalmas nagy sebességű pozícióreferencia alkalmazásokhoz.

Vastagságmérés
A számításokat végző egységének köszönhetően a ZX2 egyszerűen megoldja a vastagságmérést is. Még a különösen fényvisszaverő felületek esetén is pontos vastagságmérés érhető el.

Deformációmérés
Több ZX2 alkalmazásával lehetőség nyílik az alkatrészek deformációjának, illetve elhajlásának vizsgálatára. Stabil mérési eredmény nyerhető még a hőmérséklet vagy a mért felület változása esetén is.