Bejelentkezés

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Regisztrálás

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Köszönjük, hogy regisztrálta magát az Omronnál

A fiókregisztráció befejezéséhez elküldtünk egy e-mailt a következő címre:

Vissza a weboldalra

kérjen közvetlen hozzáférést

Adja meg az alábbi adatokat, és közvetlen hozzáférést biztosítunk az oldalon levő tartalomhoz

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Köszönjük érdeklődését!

Most már hozzáférhet a következőkhöz: Automata minőség-ellenőrző rendszer

Küldtünk egy visszaigazoló e-mailt a következő címre:

Tovább erre az oldalra

Kérjük, vagy kérjen közvetlen hozzáférést a dokumentum letöltéséhez

Az ellenőrzés kritikus szerepet játszik a félvezetőgyártásban a chip és a hordozó közötti összeköttetések minőségének és megbízhatóságának biztosításával, a hibák megelőzésével, a hozam javításával és az elektronikus eszközök általános teljesítményének biztosításával. Ellenőrzési megoldásaink nagy mértékben támogatják a zökkenőmentes gyártási folyamatot.

Alkalmazás: automatizált chipellenőrzés a back-end fázisban

A chipek csomagolásának gyors fejlődésével a félvezető eszközök szerkezete egyre összetettebbé válik. A chip és a hordozó közötti összeköttetések minőségének és megbízhatóságának biztosítása, valamint a hibák megelőzése a hozam javításához szükséges ellenőrzés szintjének gyors emelkedéséhez vezetett.

A mi megoldásunk: automatizált ellenőrzőrendszer

A félvezetőipar számára 3D-s csomagolási megoldásokat kínálunk. Automatikusan és kvantitatív módon, roncsolásmentes vizsgálat vagy hibás vágás nélkül tudjuk ellenőrizni a félvezető chipek belsejében lévő különböző méretű bumpokat. Az SMT-iparban kifejlesztett röntgensugaras vizsgálati technológiánkat felhasználva megreformáljuk a félvezetőipar vizsgálati eljárásait, és ezáltal hozzájárulunk a tömegtermelés jelentős növekedéséhez. Emellett nemcsak a tömeggyártási fázisban, hanem a K+F és a kezdeti gyártási fázisban is kínálunk megoldásokat ügyfeleink problémáinak megoldására.

Ellenőrzési megoldásaink olyan erősségekkel rendelkeznek, mint a nagy sebességű CT-s képalkotás, az automatikus ellenőrzés, a minőség szempontjából releváns adatok gyűjtése, a valós idejű felügyelet, valamint a gyors, a folyamat előtti és utáni állapotra vonatkozó visszajelzés. Lehetővé teszik az összes hibára hajlamos alkatrész ellenőrzését, a gyártási követelmények teljesülésének folyamatos nyomon követését, a rendellenességek felismerését és korai összegyűjtését.

Alaptechnológiák

SPI | AOI | AXI

Az OMRON az SPI, AOI és AXI rendszerek teljes skáláját kínálja, amelyek könnyen kezelhetőek és gyors vizsgálati programgenerálást tesznek lehetővé

Bővebben

Kapcsolódó termékek

VT-X750

Új In-line, automatikus, röntgenes ellenőrzőrendszer

VT-X850

Automatikus röntgenes CT-s ellenőrzőrendszer

VT-X950

3D-AXI automatikus röntgenes ellenőrzőrendszer

Többet szeretne megtudni?

Forduljon szakértőinkhez

+36 1 399 3050
Kapcsolatfelvétel

Vegyék fel velem a kapcsolatot Chipellenőrzés

inspection after molding scene b fcard sol

A *-gal jelölt mezőket kérjük kitölteni. Adatait bizalmasan kezeljük.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Checkbox error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Köszönjük megkeresését. Hamarosan kapcsolatba lépünk Önnel.

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download
+36 1 399 3050
+36 1 399 3050