Bejelentkezés

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Regisztrálás

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Köszönjük, hogy regisztrálta magát az Omronnál

A fiókregisztráció befejezéséhez elküldtünk egy e-mailt a következő címre:

Vissza a weboldalra

kérjen közvetlen hozzáférést

Adja meg az alábbi adatokat, és közvetlen hozzáférést biztosítunk az oldalon levő tartalomhoz

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download

Köszönjük érdeklődését!

Most már hozzáférhet a következőkhöz: Precíz magasságmérés

Küldtünk egy visszaigazoló e-mailt a következő címre:

Tovább erre az oldalra

Kérjük, vagy kérjen közvetlen hozzáférést a dokumentum letöltéséhez

Ahogyan az eszközök egyre összetettebbé válnak, szükség van az eszközöket alkotó lapkák és chipek rendkívül pontos mérésére, mivel ez kritikus fontosságú a kiváló minőségű félvezetők gyártásának biztosításához.

Az alkalmazás: lapkák és chipek magasságának mérése

A lapkagörbület mérése kihívást jelenthet. Ezeket a problémákat számos tényező okozhatja, például a feldolgozás során fellépő feszültség vagy hőmérséklet-változások. Ahogy a lapkák egyre vékonyabbá válnak, a lapkák feldolgozása során a vetemedés egyre hangsúlyosabb lesz. Ha nem tudjuk pontosan lemérni ezen tárgyakat, az negatívan befolyásolhatja a félvezető eszközök teljesítményét és hatékonyságát.

A mi megoldásunk: az érintésmentes, nagy pontosságú elmozdulásmérési technológia

Az OMRON állandó fókusztávolságú lézeres mérési technológiái megfelelnek a lapkagörbülettel kapcsolatos kihívásoknak. Érintésmentes módszereket kínálnak a lapkák mérésére, miközben a megismételhetőség is biztosított.

Az OMRON egyedi, fehér fényű, állandó fókusztávolságú elmozdulásérzékelője a hagyományos lézeres elmozdulásérzékelőkhöz képest nagyobb felbontású méréseket tesz lehetővé a ferde vagy ívelt és fényes felületeken is.

Az alkalmazás: a Z-tengely beállítása chipbekötéshez

A chipek magasságának mérése kihívást jelenthet. Az olyan eszközök, mint a 3D IC-k megjelenése miatt a különböző magasságú és anyagú chipeket pontosan kell lemérni. Ha nem lehet pontosan lemérni a tárgyat, az jelentős hatással van a Z-tengely magasságbeállítására a bekötőfejjel végzett műveletek során.

A mi megoldásunk: az érintésmentes, nagy pontosságú elmozdulásmérési technológia

Az OMRON állandó fókusztávolságú lézeres mérési technológiái leküzdik a Z-tengely magasságállítási kihívásait. Érintésmentes módszereket kínálnak a chipek mérésére, illetve a nagyfokú megismételhetőséget is biztosítják.

Az OMRON egyedi, fehér fényű, állandó fókusztávolságú elmozdulásérzékelője a hagyományos lézeres elmozdulásérzékelőkhöz képest nagyobb felbontású méréseket tesz lehetővé a ferde vagy ívelt és fényes felületeken is.

Alaptechnológiák

Fehér fényű, konfokális elven működő mérőérzékelő

Az OMRON a ZW sorozat bevezetésével az iparágban az elsők között alkalmazta a fehér fényű, konfokális elven működő mérőérzékelőjét. Ezzel az eszközzel a tárgyak bármilyen széles körülmények között (például durva, ívelt, ferde vagy keskeny területeken) stabilan, akár mozgás közben is mérhetőek.

Kapcsolódó termékek

confocal fiber displacement sensor zw-8000 7000 5000 prod

Érintésmentes, állandó fókusztávolságú fehér LED-es távolságérzékelő

Egyre növekszik az igény a szigorú minőségellenőrzés, a nagyobb gyártási sebesség és a kiviteli vizsgálatok iránt. Az ilyen igények kielégítéséhez olyan minőségvizsgálati technológiákra van szükség, melyek mozgás közben is megbízható méréseket tesznek lehetővé, a gyártási sebesség feláldozása nélkül. A fehér fényű, állandó fókusztávolságú alapelv minden előnyét magában foglaló ZW-8000/7000/5000 sorozatok a legtöbb anyagtípus (üveg, fém, műanyag stb.) és forma (kerek, lapos, egyenetlen stb.) esetén megfelel a fenti elvárásoknak.

Bővebben

Többet szeretne megtudni?

Forduljon szakértőinkhez

Szakmai tanácsadás
Kérdezze szakértőinket

Vegyék fel velem a kapcsolatot Precíz magasságmérés

eu semiconductor manufacturing application 1360692285 fcard en sol

A *-gal jelölt mezőket kérjük kitölteni. Adatait bizalmasan kezeljük.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Checkbox error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Köszönjük megkeresését. Hamarosan kapcsolatba lépünk Önnel.

Műszaki hiba lépett fel. Az űrlap adatai nem kerültek feldolgozásra. Elnézést kérünk ezért, kérjük próbálja meg később ismét. Részletek:[details]

Download
Szakmai tanácsadás
Szakmai tanácsadás